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牛津测厚仪

  • 更新时间:  2021-04-15
  • 产品型号:  FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
  • 简单描述
  • FISCHERSCOPE®X射线 XDAL®是 XDL系列中的一款进口测厚仪,测试类型为X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟"一样,它是从上到下方向测量的,这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷,为了优化您的任务的测量条件,配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。
详细介绍
品牌测量范围0-80um
产地进口加工定制
  满足复杂需求的X射线荧光分析
 
  FISCHERSCOPE®X射线 XDAL®是 XDL系列中的一款进口测厚仪,测试类型为X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟”一样,它是从上到下方向测量的,这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷,为了优化您的任务的测量条件,配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。
 
  对测量任务的要求越高,探测器的类型就越重要!因此FISCHERSCOPE X射线 XDAL提供了3种不同的半导体探测器。
 
  硅PIN二极管是一种中档检测器,非常适合在相对较大的测量区域内测量多个元素。配备PIN的XDAL通常用于检查硬质材料涂层。
 
  与硅PIN二极管相比,高质量的硅漂移检测器(SDD)具备更好的能量分辨率。如此配备的XDAL光谱仪可用于解决电子行业中的复杂测量任务:例如,测量薄合金层,或非常相似的元素(如金和铂)的材料分析。这款值得信赖的XRF仪器可用于ENIG和ENEPIG应用的质量控制。
 
  对于特别棘手的挑战,Fischer还提供带有超大探测器表面的SDD。该探测器的优势在于它能够可靠地测量纳米级的镀层,并进行痕量分析。使用这些XDAL设备,您可以测试用于高可靠性应用的焊料中的铅含量,从而避免锡须。
 
  仪器特点:
 
  1、牛津测厚仪采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准,用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪
 
  2、3种不同的探测器可选(Si-PIN二极管;SDD 20 mm²;SDD 50 mm²)3
 
  3、种可切换基本滤片
 
  4、4种可切换准直器
 
  5、小测量点约为0.15mm
 
  6、样品高度可达14cm
 
  7、可编程XY工作台,定位精度为10µm
 
  8、开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
 
  9、经过认证的全面保护设备
 
  应用:
 
  1.镀层和合金(也包括薄涂层和低浓度)的材料分析
 
  2.电子行业,ENIG,ENEPIG
 
  3.连接器和触点
 
  4.黄金,珠宝和制表业
 
  5.PCB制造薄金(几纳米)和钯镀层的测量
 
  6.微量元素分析
 
  7.高可靠性应用的铅(Pb)的测定(避免锡晶须)
 
  8.对硬质材料涂层的分析

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