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费希尔测厚仪

  • 更新时间:  2021-04-15
  • 产品型号:  FT110A
  • 简单描述
  • 日立XRF测厚仪是基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
详细介绍
品牌测量范围0-60um
产地进口加工定制

日立XRF测厚仪

XRF镀层测厚和材料分析仪,能为电镀及表面处理行业进行快速的质量控制和验证测试,可以在几秒内就可以获取准确的数据。镀层测厚仪强大功能使其成为实验室的理想选择:有着安排紧凑的工作流程,但精度、多功能性和效率是维持此工作流程正常运转的*要素。

一、产品介绍:

    镀层测厚仪旨在应对超薄镀层的挑战,例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果,有校提高生产力,同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规所带来的成本浪费。FT160系列镀层测厚仪易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程,在问题引发危机之前及时发出提醒。

    FT160系列镀层测厚仪采用了新款高分辨率样品观察相机和改进的照明,样品的预览和测量点的选择变得更加清晰和简便。

二、特点:

1、高性能XRF镀层测厚仪,适用于超小部件上的超薄镀层分析;

2、使用多毛细管光学聚焦系统,光斑尺寸<50um;

3、数秒间测试纳米级镀层厚度;

4、简单易用的操作软件;

5、强大的数据处理能力

三、适用的厚度范围:


四、XRF结构:


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