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多功能X射线测厚仪

  • 更新时间:  2021-09-01
  • 产品型号:  XAU
  • 简单描述
  • XAU多功能X射线测厚仪是一款多用途、运用广泛的光谱仪,仪器配置硅片半导体或SDD探测器,应用核心的EFP算法和微聚焦技术,可以很好的检测微小及超薄的电镀镀层厚度,也可以很好的检测欧盟RoHS及有害物质和金属成分的分析。仪器利用X射线的快速及无损检测的优势,真正做到一机多用。
详细介绍
品牌天瑞仪器测量范围0-80um、RoHS检测、合金分析等
外形尺寸440mm*560mm*460mmmm重量50kg
测量精度小于5%产地国产
加工定制测试类型X射线
X射线检测器SDD

       XAU多功能X射线测厚仪是一款多用途、运用广泛的光谱仪,仪器配置硅片半导体或SDD探测器,应用核心的EFP算法和微聚焦技术,可以很好的检测微小及超薄的电镀镀层厚度,也可以很好的检测欧盟RoHS及有害物质和金属成分的分析。仪器利用X射线的快速及无损检测的优势,真正做到一机多用。

XAU镀层简介.png

XAU镀层简介.png

XAU镀层简介.pngXAU镀层简介.png        随着环保的要求越来越严格,很多大的电子电器厂家,不仅对电镀层的厚度有要求,还对产品是否含有有害物质需要严格的管控,这就需要仪器光谱仪不仅能检测镀层的厚度,还要能测出来RoHS、卤素等法规规定的有害物质的含量。

       XAU系列多功能X射线测厚仪的仪器使用了硅片或SDD的探测器,不仅能用于检测电镀层的厚度,还可以用于分析元素的含量,经过公司核心的EFP算法,还可以用于检测有害元素的含量、贵金属成分的分析、合金成分分析以及电镀液成分的分析检测等。

        专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

XAU系列配置.png

选择我们的优势

1、一机多用,无损检测 

2、最小测量面积0.002mm²  

3、可检测凹槽0-90mm的异形件  

4、轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测



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