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台式镀层厚度测试仪

  • 更新时间:  2021-04-15
  • 产品型号:  FISCHERSCOPEX射线XUL
  • 简单描述
  • 台式镀层厚度测试仪FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分,但在质量控制方面也是不可或缺的帮手:坚固耐用,非常适合测量批量生产的零件(如螺母和螺栓)上的电镀层 。
详细介绍
品牌Fischer/菲希尔测量范围0-60um
重量68kg测量精度0.001um
产地进口加工定制

入门级X射线荧光分析

FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分,但在质量控制方面也是不可或缺的帮手:坚固耐用,非常适合测量批量生产的零件(如螺母和螺栓)上的电镀层 。

XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中;或者,对于较小的物品(例如插头),仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑,但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。

如果您有多种不同的测量任务,FISCHERSCOPE X射线XULM拥有可互切换的过滤器和准直仪,因此您可以为所有应用创造合适的测量条件。 此外,XULM具有内置的微聚焦管,即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。

特点

  • 根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度
  • XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm
  • 钨X射线管或钨微聚焦管(XULM)作为X射线源
  • 采用经实践验证的短测量时间的比例接收器
  • 准直器:固定或4个自动切换
  • 初级过滤器:固定或3个自动切换
  • 固定样品台或手动XY载物台
  • 用于光学观察测量点的摄像头
  • 经认证的全面防护设计;
  • 应用 电镀层,
  • 例如铁上的锌或铁上的锌镍,用于大批量生产的零件(螺母和螺栓)的腐蚀防护
  • 电镀液中金属含量的分析
  • 装饰性涂层
  • Cr/Ni/Cu/ABS >电子行业连接器和触点上的镀层
  • 仪器探测器
  • 仪器最重要的一个的组件是探测器,它是“看到”荧光辐射的部分。
  • 久经考验的比例计数管(PC)具有较大的感应面积,因此可实现较高的计数率。它非常适合于带有较小测量点上较厚镀层的测量。但是,由于它提供的能量分辨率较低且灵敏度有限,尤其是对于轻元素,因此仅部分适合于要求高的测量任务。

    硅PIN二极管是一种中档的探测器。它具有比比例接收器更好的分辨率,但测量面积很小。它既可以用于材料分析,也可以用于镀层厚度测量。但是对于较小的测量点,需要相对较长的测量时间。

    高质量的X射线荧光设备采用硅漂移探测器(SDD)。这种类型的检测器具有极好的能量分辨率,这意味着它甚至可以检测样品中浓度非常低的元素的辐射。此外,此类设备可以确定纳米级别的镀层厚度,并可以轻易地分析复杂的多镀层结构。


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