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台式镀层厚度测试仪

  • 更新时间:  2021-04-15
  • 产品型号:  菲希尔FISCHERSCOPE XDL
  • 简单描述
  • 台式镀层厚度测试仪专为电镀及需要表面处理的行业设计的一款高精度镀层厚度测试的仪器,仪器采用X射线荧光分析法,可以便捷、快速、无损的分析出电镀镀层的厚度和电镀液的成分。仪器连接电脑使用,操作简单直观,不仅方便实验室使用,也方便放在电镀产线上对产品的质量进行控制。
详细介绍
品牌Fischer/菲希尔测量范围0-80um
重量75kg测量精度0.001um
产地进口加工定制

       台式镀层厚度测试仪专为电镀及需要表面处理的行业设计的一款高精度镀层厚度测试的仪器,仪器采用X射线荧光分析法,可以便捷、快速、无损的分析出电镀镀层的厚度和电镀液的成分。仪器连接电脑使用,操作简单直观,不仅方便实验室使用,也方便放在电镀产线上对产品的质量进行控制。

                                           台式镀层厚度测试仪

 

FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分,但在质量控制方面也是不可或缺的帮手:坚固耐用,非常适合测量批量生产的零件(如螺母和螺栓)上的电镀层 。

XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中;或者,对于较小的物品(例如插头),仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑,但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。

如果您有多种不同的测量任务,FISCHERSCOPE X射线XULM拥有可互切换的过滤器和准直仪,因此您可以为所有应用创造合适的测量条件。 此外,XULM具有内置的微聚焦管,即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。

 

技术指标:

多镀层分析,1~5层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);

6个准直器及多个滤光片自动切换;

 XYZ三维移动平台,MAX荷载为5公斤;

 高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP/MLSQ分析;

仪器尺寸:618×525×490mm;

样品台尺寸:250×220mm;

样品台移动范围:前后左右各80mm、高度90mm。

 

功能特点: 

◆配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量 

◆使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构   

◆底部C型开槽的大容量测量舱 

◆有弹出功能的快速、可编程XY平台  典型应用领域: 

◆镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分) 

◆来料检验,生产监控 

◆研究和开发 

◆电子工业 

◆接插件和触点 

◆黄金、珠宝和钟表工业 

◆可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层 

◆痕量元素分析 

◆在有“高可靠性”要求的应用中确定铅(Pb)含量 

◆硬质镀层分

 

应用 :

电镀层,例如铁上的锌或铁上的锌镍,用于大批量生产的零件(螺母和螺栓)的腐蚀防护

电镀液中金属含量的分析

装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS >

电子行业连接器和触点上的镀层等

 

软件测试界面:

报告也可以根据客户需要格式自己设置

也可以直接导出PDF,EXCEL等格式


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