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一六测厚仪

  • 更新时间:  2021-04-08
  • 产品型号:  XAD
  • 简单描述
  • XAD一六测厚仪是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
详细介绍
 技术参数:

1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)

2. 成分*检出限:1ppm

3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)

4. 涂镀层*检出限:0.005μm

5. 最小测量直径□0.1*0.3mm(最小测量面积0.03mm²)

    标配:最小测量直径0.3mm(最小测量面积0.07mm²)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm

9. 仪器重量:100KG

10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm

11. XY轴工作台最大承重:15KG

选择一六测厚仪的四大理由:

1.一机多用,无损检测(涂镀层检测-环保RoHS-成分分析)

2.最小测量面积0.002mm²

3.可检测凹槽0-90mm的异形件

 

4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测


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