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精工测厚仪

  • 更新时间:  2021-04-15
  • 产品型号:  XTU
  • 简单描述
  • XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度极高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
    该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
    被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
详细介绍
品牌测量范围涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)
外形尺寸550mm*480mm*470mmmm重量45kg
测量精度厚度检出限:0.005μm产地国产
加工定制
  仪器简介:
 
  XTU-A是一款设计结构紧凑,模块精密化程度极高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
 
  该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
 
  被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
 
  技术参数:
 
  1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
 
  2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)
 
  3. 厚度低检出限:0.005μm
 
  4. 成分低检出限:1ppm
 
  5. 小测量直径0.2mm(小测量面积0.03mm²)
 
  6. 对焦距离:0-30mm
 
  7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
 
  8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm
 
  9. 仪器重量:45KG
 
  10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm
 
  11. XY轴工作台大承重:5KG
 
  多元迭代EFP核心算法
 
  专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
 
  单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
 
  多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
 
  合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
 
  合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。
 
  重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。
 
  如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,D一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。
 
  仪器优势:
 
  1.一机多用,无损检测
 
  2.小测量面积0.002mm²
 
  3.可检测凹槽0-30mm的异形件
 
  4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测

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