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X射线测厚仪按测量原理一般有以下五种类型

浏览次数:60发布日期:2021-08-24
  X射线测厚仪根据X射线穿透被检物时的强度衰减来换算和测量厚度,即测量被测钢板吸收的X射线,根据X射线的能量值。接收到的信号由X射线探测器转换成电信号,经前置放大器放大,传送到中央处理单元(PLC)。经过几列复杂的算法,通过专用的测厚仪操作系统,转化为直观的实际厚度信号。X射线源的辐射强度与X射线管的发射强度和被测钢板吸收的X射线强度有关。
  当厚度一定时,X射线的能量值也一定。当X射线高压电源打开时,X射线将穿过X射线源和探头之间的被测钢板,一部分能量被被测钢板吸收,其余的X射线将被X射线源正上方的探头接收,探头将接收到的X射线转换成与其尺寸相关的输出电压。如果被测钢板的厚度发生变化,吸收的X射线量也会发生变化,从而改变探头接收到的X射线量,检测信号也会相应发生变化。
  X射线测厚仪根据原理一般有以下五种类型:
  1、磁性测厚法:适用于导磁材料上非磁性层的测厚。导磁材料一般为钢、铁、银和镍。该方法测量精度高。
  2、涡流测厚法:适用于导电金属上非导电层的测厚。这种方法比磁性测厚法和nt230涂层测厚仪具有更高的精度。
  3、声学测厚法:目前国内尚未采用此法测厚。国外有些厂家有这样的仪器,适用于多层镀层厚度的测量或以上两种方法都不能测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度不高。
  4、电解测厚法:此法与上述三种方法不同。不属于无损检测,需要破坏涂层。一般来说,准确率不高。测量比其他方法更麻烦。
  5、辐射测厚法:这种X射线测厚仪价格非常昂贵(一般100000RMB以上),适用于一些特殊场合。
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